Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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PROYECTO:
 Métodos de diseño para test y test de tensión e intensidad en circuitos digitales y mixtos VLSI
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Título:Métodos de diseño para test y test de tensión e intensidad en circuitos digitales y mixtos VLSI
Acrónimo: 
Financia:CICYT 
Socios:GIM/UC 
Presupuesto: Año comienzo:1996  final:1999 
Director:Salvador Bracho 
Temas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Personas: Miguel Angel Allende
Salvador Bracho
Rosario Casanueva
Yolanda Lechuga
Mar Martínez
Román Mozuelos
Descripción:Se consiguieron resultados en la generación de test determinista en BIST de circuitos digitales y en el diseño de nuevos sensores dinámicos de la intensidad de alimentación en circuitos analógicos y mixtos.  

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