Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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PROYECTO:
 AMATIST
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Título:AMATIST
Acrónimo: 
Financia:ESPRIT(LTR) 
Socios:Universidades de Pavía(I), Twente(NL), Genoble(F), Lancaster(UK) y GIM/UC, liderados por el CNM/IMSE(E) 
Presupuesto: Año comienzo:1998  final:2000 
Director:Salvador Bracho 
Temas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Personas: Salvador Bracho
Rosario Casanueva
Yolanda Lechuga
Mar Martínez
Román Mozuelos
Descripción:Las tareas realizadas consistieron en proponer métodos de test válidos para circuitos analógicos y mixtos basados en el test estático y dinámico de la intensidad de alimentación, mediante el diseño de los sensores adecuados (BICs) y la generación de los algoritmos de test capaces de excitar los fallos que existen en este tipo de circuitos. También se estudiaron métodos estadísticos para el estudio de fallos paramétricos en los circuitos analógicos.  

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