Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Signature Analysis in a Dynamic Current Test of Mixed-signals ICs
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:International Mixed Signal Testing Workshop. Grenoble (F)
Fecha:1995-06
Autores: J. Argüelles
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
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Resumen:
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