Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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   Ficha completa
Título:A Novel High-Level Allocation Technique for Test
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:Fourth Annual Atlantic Test Workshop. Corsica, France
Fecha:1995-07
Autores: Víctor Fernández
Pablo Pedro Sánchez
Eugenio Villar
Líneas: Diseño y verificación de sistemas embebidos HW/SW
Proyectos:
ISBN:
Fichero:
Resumen:
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