Grupo de Ingeniería Microelectrónica

Grupo de Ingeniería Microelectrónica

 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
Home   Personas   Investigación   Docencia   Doctorado   Publicaciones   Herramientas   Bolsa de Empleo   english version Thu 18-Apr-24 . 21:32



Mapa Web


Localización

Noticias

Info Santander



Gestión BD
GIM>Investigación>Publicación
   PUBLICACION
 
   Ficha completa
Título:Métodos de Test de Intensidad en Circuitos Mixtos
Tipo:Comunicaciones a congresos nacionales
Lugar:Seminario Anual de Automática y Electrónica Industrial. Tarragona
Fecha:1995-09
Autores: Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos:
ISBN:
Fichero:
Resumen:
© Copyright GIM (TEISA-UC)    ¤    Todos los derechos Reservados.    ¤    Términos LegalesE-Mail Webmaster