Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Técnica para simulación de fallos en un entorno VHDL
Tipo:Comunicaciones a congresos nacionales
Lugar:Congreso de Diseño de Circuitos Integrados y Sistemas (DCIS95). Zaragoza
Fecha:1995-11
Autores: I. Hidalgo
Pablo Pedro Sánchez
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos:
ISBN:
Fichero:
Resumen:
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