Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Analog Circuit Test Based in Hypothesis Test of Dynamic Current Consumption
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:International Mixed Signal Testing Workshop. Canada
Fecha:1996-05
Autores: V. Puente
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
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