Grupo de Ingeniería Microelectrónica

Grupo de Ingeniería Microelectrónica

Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
Home   Personas   Investigación   Docencia   Doctorado   Publicaciones   Herramientas   Bolsa de Empleo   english version Sun 08-Dec-24 . 09:21



Mapa Web


Localización

Noticias

Info Santander



Gestión BD

GIM>Investigación>Publicación
   PUBLICACION
 
   Ficha completa
Título:Design-for-Test Method for High-Speed ADCs: Behavioral Description and Optimization
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS´11), Cottbus (Germany)
Fecha:2011-04
Autores: Yolanda Lechuga
Román Mozuelos
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas:
Proyectos:
ISBN:978-1-4244-97546
Fichero:
Resumen:This paper presents a Design-for-Test (DfT) approach for folded analog to digital converters. A sensor circuit is designed to sample several internal ADC test points at the same time, so that, by computing the relative deviation among them the presence of a defect can be detected. A fault evaluation is carried out on a behavioral model to compare the coverage of the proposed test approach with the one obtained from a functional test. Then, the analysis is moved to a transistor level implementation of the ADC to establish the threshold limits for the DfT circuit that maximize the fault coverage figure of the test approach.
© Copyright GIM (TEISA-UC)    ¤    Todos los derechos Reservados.    ¤    Términos LegalesE-Mail Webmaster