Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:A Novel Built-in Dynamic Supply Current Monitor for Mixed IC Testing
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:IEE Colloquium on Testing Mixed Signal Circuits and Systems. London (England)
Fecha:1997-10
Autores: J. Argüelles
M. J. López
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
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