Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Reliability analysis for a power-supply current test
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:IEEE European Test Workshop. Barcelona
Fecha:1998-05
Autores: J. Argüelles
M. J. López
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
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