Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Chances of Supply Current Test Techniques for Mixed Signal Integrated Circuits
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:IEE Systems on a Chip, UCD (Dublín)
Fecha:1998-09
Autores: J. Argüelles
M. J. López
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
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