Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Catastrophic and Parametric Fault Detection By a Transient Current Test
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:XIV Design of Circuits and Integrated Systems Conference.
Fecha:1999-11
Autores: Román Mozuelos
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
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