Microelectronics Engineering Group

Microelectronics Engineering Group

Electronics Technology, Systems and Automation Engineering Department University of Cantabria
Home    Staff    Research    Teaching    Doctorate    Publications    Tools    versión en español Fri 24-May-19 . 16:28



Web Map


Location

News

Santander Info

GIM>Research>project>Métodos de diseño pa...
PROJECT:
 Métodos de diseño para test y test de tensión e intensidad en circuitos digitales y mixtos VLSI
   Select this link to see PUBLICATIONS within this project
 
Title:Métodos de diseño para test y test de tensión e intensidad en circuitos digitales y mixtos VLSI
Acronym: 
Payer:CICYT 
Partners:GIM/UC 
Budget: Years, begin:1996  end:1999 
Director:Salvador Bracho 
R&D Lines: Test methods of digital and mixed integrated circuits
Staff: Miguel Angel Allende
Salvador Bracho
Rosario Casanueva
Yolanda Lechuga
Mar Martínez
Román Mozuelos
Description:Se consiguieron resultados en la generación de test determinista en BIST de circuitos digitales y en el diseño de nuevos sensores dinámicos de la intensidad de alimentación en circuitos analógicos y mixtos.  

© Copyright GIM (TEISA-UC)    ¤    All rights reserved.    ¤    Legal TermsE-Mail Webmaster