Microelectronics Engineering Group

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Electronics Technology, Systems and Automation Engineering Department University of Cantabria
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PROJECT:
 AMATIST
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Title:AMATIST
Acronym: 
Payer:ESPRIT(LTR) 
Partners:Universidades de Pavía(I), Twente(NL), Genoble(F), Lancaster(UK) y GIM/UC, liderados por el CNM/IMSE(E) 
Budget: Years, begin:1998  end:2000 
Director:Salvador Bracho 
R&D Lines: Test methods of digital and mixed integrated circuits
Staff: Salvador Bracho
Rosario Casanueva
Yolanda Lechuga
Mar Martínez
Román Mozuelos
Description:Las tareas realizadas consistieron en proponer métodos de test válidos para circuitos analógicos y mixtos basados en el test estático y dinámico de la intensidad de alimentación, mediante el diseño de los sensores adecuados (BICs) y la generación de los algoritmos de test capaces de excitar los fallos que existen en este tipo de circuitos. También se estudiaron métodos estadísticos para el estudio de fallos paramétricos en los circuitos analógicos.  

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