Microelectronics Engineering Group

Esta línea se inicia en el test de circuitos integrados digitales VLSI con nuestra participación dentro del II Programa Marco de la UE, en el Proyecto ESPRIT: EVEREST, como socios de Telefónica Investigación y Desarrollo (T I+D), donde participamos en la evaluación de algoritmos para realizar el test de PLDs, coordinados por la Compañía Siemens(Munich), y en técnicas de diseño para test estructurado de tipo 'scan' parcial en circuitos VLSI de comunicaciones, coordinados por la Compañía Philips-NatLabs(Eindhoven).

El test de circuitos mixtos, analógico-digitales, dio origen a que Grupo participa en el IV Programa Marco de la UE como socios del proyecto ESPRIT(LTR): AMATIST, en colaboración con las Universidades de Pavía(I), Twente(NL), Genoble(F) y Lancaster(UK), liderados por el CNM/IMSE(E). Las tareas realizadas consistieron en proponer métodos de test válidos para circuitos analógicos y mixtos basados en el test estático y dinámico de la intensidad de alimentación, mediante el diseño de los sensores adecuados (BICs) y la generación de los algoritmos de test capaces de excitar los fallos que existen en este tipo de circuitos. También se estudiaros métodos estadísticos para el estudio de fallos paramétricos en los circuitos analógicos.

El estudio de los métodos de diseño para test y test de tensión e intensidad en circuitos digitales y mixtos VLSI, ha sido financiado por la CICYT, obteniendo resultados en la generación de test determinista en BIST de circuitos digitales y en el diseño de nuevos sensores dinámicos de la intensidad de alimentación en circuitos analógicos y mixtos.

Actualmente se aborda el test de convertidores analógico-digitales (ADC) y digitales analógico(DAC) y el de filtros continuos y conmutados SI y SC, al tiempo que se analiza nuevos sensores dinámicos de intensidad en los bloques básicos de diseño analógico y digital.