Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Dynamic Current Test of Switched-current Building-blocks
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:15th Design of Circuits and Integrated Systems Conference (DCIS 2000). Montpellier (Francia)
Fecha:2000-11
Autores: Yolanda Lechuga
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos: Métodos de diseño para test y test de tensión e intensidad en circuitos d...
ISBN:
Fichero:
Resumen:
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