Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:On line IC test course with distance access to test equipment
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:2nd IEEE Latin American Test Workshop. Cancún (Mexico)
Fecha:2001-02
Autores: Miguel Angel Allende
Román Mozuelos
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Formación de ingenieros en técnicas de diseño y test de circuitos VLSI
Proyectos:
ISBN:
Fichero:
Resumen:
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