Grupo de Ingeniería Microelectrónica

Grupo de Ingeniería Microelectrónica

Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
Home   Personas   Investigación   Docencia   Doctorado   Publicaciones   Herramientas   Bolsa de Empleo   english version Wed 22-May-19 . 21:55



Mapa Web


Localización

Noticias

Info Santander



Gestión BD

GIM>Investigación>Publicación
   PUBLICACION
 
   Ficha completa
Título:On line IC test course with distance access to test equipment
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:2nd IEEE Latin American Test Workshop. Cancún (Mexico)
Fecha:2001-02
Autores: Miguel Angel Allende
Román Mozuelos
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Formación de ingenieros en técnicas de diseño y test de circuitos VLSI
Proyectos:
ISBN:
Fichero:
Resumen:
© Copyright GIM (TEISA-UC)    ¤    Todos los derechos Reservados.    ¤    Términos LegalesE-Mail Webmaster