Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Fault detection in algorithmic switched-current ADC using built-in sensors
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:XVII Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS 2002). Santander
Fecha:2002-11
Autores: Yolanda Lechuga
Román Mozuelos
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos: Técnicas de Test para Circuitos Mixtos, Analógicos-Digitales. Aplicación ...
ISBN:84-8102-311-6
Fichero:
Resumen:
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