Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Test generation in algorithmic switched current ADCs
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:9th International Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW2003). Sevilla
Fecha:2003-06
Autores: Yolanda Lechuga
Román Mozuelos
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos: Técnicas de Test para Circuitos Mixtos, Analógicos-Digitales. Aplicación ...
ISBN:
Fichero:
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