Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Test de Hipótesis basado en el consumo dinámico de intensidad
Tipo:Comunicaciones a congresos nacionales
Lugar:X Congreso de Diseño de Circuitos Integrados y Sistemas (DCIS95). Zaragoza
Fecha:1995-11
Autores: V. Puente
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
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ISBN:
Fichero:
Resumen:
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