Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Test of a Switched Capacitor ADC by a Built-In Charge Sensor
Tipo:Articulo en revista internacional
Lugar:Microelectronics Journal 36 (12): 1064-1072
Fecha:2005-11
Autores: Román Mozuelos
Yolanda Lechuga
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos: Técnicas de Test para Circuitos Mixtos, Analógicos-Digitales. Aplicación ...
ISBN:0026-2692
Fichero:
Resumen:A test methodology for switched capacitor circuits is described. The test approach uses a built-in sensor to analyze the charge transfer inside the circuit under test (CUT). The test methodology is applied to a 10-bit algorithmic analog to digital converter to characterize the static linearity and to obtain the simulated fault coverage figures taking into account a catastrophic fault model. The goodness of the charge sensor has been experimentally evaluated with an SC integrator for fault detection and built-in sensor influence on the CUT performances.
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