Grupo de Ingeniería Microelectrónica

Grupo de Ingeniería Microelectrónica

Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
Home   Personas   Investigación   Docencia   Doctorado   Publicaciones   Herramientas   Bolsa de Empleo   english version Fri 18-Oct-19 . 02:13



Mapa Web


Localización

Noticias

Info Santander



Gestión BD

GIM>Investigación>Publicación
   PUBLICACION
 
   Ficha completa
Título:Design for Test of High-Speed Folded ADCs
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:XX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems(DCIS 2005) Lisboa(P)
Fecha:2005-11
Autores: Yolanda Lechuga
Román Mozuelos
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos: Técnicas de Test para Circuitos Mixtos, Analógicos-Digitales. Aplicación ...
ISBN:972-99387-2-5
Fichero:
Resumen:This paper presents a design for test approach for folding and interpolated analog-to-digital converters that incorporates a distributed track-and-hold preprocessing. The test approach samples the average voltage of the amplifier differential outputs. By comparing sequentially the sampled voltage of each amplifier with the one of a neighbour cell, the defects on the CUT can be detected. A fault evaluation is done to check the test effectiveness.
© Copyright GIM (TEISA-UC)    ¤    Todos los derechos Reservados.    ¤    Términos LegalesE-Mail Webmaster