Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Test de Preamplificadores en Convertidores A/D Doblados
Tipo:Comunicaciones a congresos nacionales
Lugar:Proc. of the XII Annual Seminar on Automatic Control, Industrial Electronics and Instrumentation (SAAEI 2005), Santander
Fecha:2005-09
Autores: Yolanda Lechuga
Román Mozuelos
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos: Técnicas de Test para Circuitos Mixtos, Analógicos-Digitales. Aplicación ...
ISBN:84-8102-964-5
Fichero:
Resumen:Este trabajo presenta una metodología de test para convertidores analógico-digitales de alta velocidad de tipo flash y doblado, se basa en el análisis de los bloques básicos lineales del circuito como son los preamplificadores y buffers. El método de test propuesto muestrea las tensiones de salida de varios módulos del ADC simultáneamente para detectar cualquier desviación relativa entre ellas cuando se inyecta un fallo.
Para evaluar la eficiencia del método de test se ha llevado a cabo una simulación de fallos, considerando un modelo que incluye fallos catastróficos y paramétricos a nivel de transistor.
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