Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:DfT Behavioural Description for Folded ADCs
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:12th IEEE International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW´06) Edinburgh(UK)
Fecha:2006-06
Autores: Román Mozuelos
Yolanda Lechuga
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos:
ISBN:
Fichero:
Resumen:
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