Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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   Ficha completa
Título:Current fault modeling in VITAL
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:VHDL International User´s Forum. Santa Clara, CA, USA
Fecha:1996-02
Autores: J. L. Barreda
Pablo Pedro Sánchez
Eugenio Villar
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
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ISBN:
Fichero:
Resumen:
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