Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Signature Analysis for Fault Detection of Mixed-Signal ICs Based on Dynamic Power-Supply current
Tipo:Articulo en revista internacional
Lugar:Journal of Electronics Testing (Special issue on Analog and Mixed Signal Testing), Vol. 9, Nº. 1/2
Fecha:1996-08
Autores: J. Argüelles
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos:
ISBN:0923-8174
Fichero:
Resumen:
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