Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Test Basado en Sensores de Corriente Internos para Circuitos Integrados Mixtos (Analógicos-Digitales)
Tipo:Tesis doctoral
Lugar:Universidad de Cantabria
Fecha:2009-09
Autores: Román Mozuelos
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos:
ISBN:978-84692-7106-3
Fichero:
Resumen:En esta tesis se propone un método de diseño para test orientado hacia circuitos mixtos empotrados. El método de test está basado en el análisis del consumo de corriente dinámica (IDDX) tanto estacionaria como transitoria.
Con objeto de procesar adecuadamente la información de los transitorios de corriente, la medida se efectúa internamente integrando dentro del chip un bloque sensor de corriente (BICS) junto al circuito bajo test (CUT). Se ha desarrollado una estructura del módulo sensor para otorgar más peso específico al muestreo de las componentes de alta frecuencia de la corriente.
El método de test estructural propuesto busca disminuir el tiempo necesario para realizar el test y reducir la complejidad de los equipos de medida comúnmente utilizados en el test analógico. Por ello, el circuito sensor de corriente realiza un procesado de la información para proporcionar una firma digital que codifica el funcionamiento del circuito.
La tesis también extiende la propuesta de test a circuitos de capacidades conmutadas (SC) utilizando un circuito sensor de carga integrado junto al circuito bajo test.
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