Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Deterministic Test Pattern Generation based on Cellular Automata
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:2nd Archimedes Open Workshop on Synthesis of Testable Circuits. Barcelona
Fecha:1995-02
Autores: M. J. López
Mar Martínez
J. Argüelles
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
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