Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Current fault modeling in VITAL
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:XI Conference Design of Integrated Circuits and Systems (DCIS´96). Sitges (Barcelona).
Fecha:1996-11
Autores: J. L. Barreda
Pablo Pedro Sánchez
Líneas: Diseño y verificación de sistemas electrónicos para comunicaciones
Proyectos:
ISBN:84-89349-83-5
Fichero:
Resumen:
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