Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Design for Test (DfT) study on a current mode DAC
Tipo:Articulo en revista internacional
Lugar:IEE Circuits, Devices and Systems. Volume 143, Number 6, pp 374-379
Fecha:1996-12
Autores: T. Olbrich
Román Mozuelos
A. Richardson
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos:
ISBN:1350-2409
Fichero:
Resumen:
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