Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Dynamic Current Testing Methods in Mixed Signal Integrated Circuits
Tipo:Publicacion en Proceedings o Actas internacionales
Lugar:Open Workshop AMATIST Project & Final Review Meeting. University of Twente (NL)
Fecha:1997-05
Autores: Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
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Fichero:
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