Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Iddt testing of continuos-time filters
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:13th VLSI Test Symposium. Princeton (USA)
Fecha:1995-04
Autores: J. Argüelles
M. J. López
J. Blanco
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos:
ISBN:
Fichero:
Resumen:
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