Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Cellular Automata-based Mixed Test Pattern Generator for Built-in Self-test
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:IEEE European Test Workshop (ETW97). Cagliari (Italia)
Fecha:1997-05
Autores: M. J. López
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
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