Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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 Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:A Design for Test Proposal for Improving Dynamic Current Testing Reliability on Regenerative Sense Amplifiers
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:IEEE International Workshop on IDDQ Testing. Washington, DC (USA)
Fecha:1997-11
Autores: J. Argüelles
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
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Fichero:
Resumen:
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