Grupo de Ingeniería Microelectrónica

Grupo de Ingeniería Microelectrónica

Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
Home   Personas   Investigación   Docencia   Doctorado   Publicaciones   Herramientas   Bolsa de Empleo   english version Tue 16-Apr-24 . 16:26



Mapa Web


Localización

Noticias

Info Santander



Gestión BD

GIM>Investigación>Publicación
   PUBLICACION
 
   Ficha completa
Título:Dynamic Power Supply Current Measurements for Catastrophic and Parametric Fault Detection
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:4th International Mixed Signal Testing Workshop (IMSTW98). The Hague (The Netherlands)
Fecha:1998-06
Autores: Román Mozuelos
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos:
ISBN:
Fichero:
Resumen:
© Copyright GIM (TEISA-UC)    ¤    Todos los derechos Reservados.    ¤    Términos LegalesE-Mail Webmaster