Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Fault Detection in Switched-current Building-blocks by Dynamic Current Test
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:XIII Design of Circuits and Integrated Systems Conference (DCIS98). Madrid
Fecha:1998-11
Autores: L. González
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
Proyectos:
ISBN:84-606-8345-7
Fichero:
Resumen:
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