Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Dynamic Current Test of Switched-current Buildings-blocks
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:IEEE International Mixed Signal test Symposium. Vancouver (Canada)
Fecha:1999-06
Autores: L. González
D. Pando
Mar Martínez
Salvador Bracho
Líneas: Métodos de test de circuitos integrados digitales y mixtos
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