Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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Título:Model-Driven Analysis of Security, Reliability, Test, Privacy, Safety and Trust of IoE Services
Tipo:Comunicaciones a congresos internacionales
Lugar:Surrealist Workshop of the IEEE European Test Symposium, Bremen, Germany
Fecha:2018-05
Autores: Eugenio Villar
Líneas: Diseño y verificación de sistemas embebidos HW/SW
Proyectos: ECSEL 737494-2 MegaMart2
ISBN:
Fichero:ver fichero
Resumen:In this presentation, Model-Driven, electronic system design for the IoE is discussed. Modeling of extra-functional poperties such as Security, Reliability, Test, Privacy, Safety and Trust of IoE Services is described. A single-source approach supported by powerful design tools is proposed. Background results from previous projects are described and its further exploitation through the ECSEL MegaMart project, presented.
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