Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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   PUBLICACIONES originadas dentro del proyecto: "Métodos de Test Funcionales y Estr..." ordenadas por fecha
 
   2013
Revista Internacional R. Mozuelos, Y. Lechuga, M. Martínez, S. Bracho
"Behavioral model of folded and interpolated ADCs for test evaluation—Case study: Structural DfT method"
Microelectronics Journal, Volume 44, Issue 5, May 2013, Pages 382–392. 2013-05
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   2011
Revista Internacional R. Mozuelos, Y. Lechuga, M. Martínez, S. Bracho
"Structural Test Approach for Embedded Analog Circuits based on a Built-In Current Sensor"
Journal of Electronic Testing (Springer). 2011-04
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   2010
Conferencia Internacional Y. Lechuga, R. Mozuelos, M. Martínez, S. Bracho
"Fault Evaluation of a Distributed Preamplifying Stage of a High-Speed Folded ADC"
XXV Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, DCIS'10. 2010-11
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Conferencia Internacional R. Mozuelos, Y. Lechuga, M. Martínez, S. Bracho
"Test of Embedded Analog Circuits based on a Built-In Current Sensor"
European Test Symposium 2010, ETS10. 2010-05
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Capítulo de libro R. Mozuelos, Y. Lechuga, M. Martínez, S. Bracho
"Test based on Built-In Current Sensors for Mixed-Signal Circuits"
Emerging Trends in Technological Innovation, IFIP AICT 314, Springer. 2010-02
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Capítulo de libro Y. Lechuga, R. Mozuelos, M. Martínez, S. Bracho
"Structural DfT Strategy for High-speed ADCs"
Emerging Trends in Technological Innovation, IFIP AICT 314, Springer*. 2010-02
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   2009
Conferencia Internacional Y. Lechuga, R. Mozuelos, M. Martínez, S. Bracho
"Optimization of a Structural DfT Targeting Fault Detection on High‐Speed ADCs"
European Test Symposium (ETS'09). Sevilla(E). 2009-05
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Conferencia Internacional M.Martínez, S.Bracho, R.Mozuelos, M.A.Allende
"Tecnologías Colaborativas en un Curso de Circuitos Microelectrónicos"
Informática 2009, Segundo Simposio Internacional de Computación y Electrónica, La Habana (Cuba). 2009-02
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   2008
Conferencia Internacional Y. Lechuga, Ahcène Bounceur, R. Mozuelos, M. Martínez, S. Bracho, Salvador Mir
"Test Limit Evaluation for an ADC Structural Design-for-Test Approach by using a CAT Platform"
Proceedings of the Conference on Design of Circuits and Integrated Systems DCIS 2008, Grenoble (Francia). 2008-11
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