Grupo de Ingeniería Microelectrónica

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Departamento de Tecnología Electrónica, Ingeniería de Sistemas y Automática Universidad de Cantabria
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   PUBLICACIONES originadas dentro del proyecto: "Técnicas de Test para Circuitos Mi..." ordenadas por fecha
 
   2005
Revista Internacional Y. Lechuga, R. Mozuelos, M. Allende, M. Martínez, S. Bracho
"Fault detection in switched current circuits using built-in transient current sensors"
Journal of Electronic Testing-Theory and Applications 21 (6): 583-598. 2005-12
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Revista Internacional R. Mozuelos, Y. Lechuga, M. Martínez, S. Bracho
"Test of a Switched Capacitor ADC by a Built-In Charge Sensor"
Microelectronics Journal 36 (12): 1064-1072. 2005-11
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Conferencia Internacional Y. Lechuga, R. Mozuelos, M. Martínez, S. Bracho
"Design for Test of High-Speed Folded ADCs"
XX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems(DCIS 2005) Lisboa(P). 2005-11
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Conferencia Nacional Y. Lechuga, R. Mozuelos, M. Martínez, S. Bracho
"Test de Preamplificadores en Convertidores A/D Doblados"
Proc. of the XII Annual Seminar on Automatic Control, Industrial Electronics and Instrumentation (SAAEI 2005), Santander. 2005-09
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Conferencia Internacional R. Mozuelos, Y. Lechuga, M. Martínez, S. Bracho
"Test of Averaged Preamplifiers in Folded ADCs "
11th IEEE International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW 2005) Cannes(F). 2005-06
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   2004
Conferencia Internacional R. Mozuelos, Y. Lechuga, M. Allende, M. Martínez, S. Bracho
"Experimental Evaluation of a Built-in Current Sensor for Analog Circuits"
XIX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS2004). Bordeaux (France). 2004-11
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Conferencia Internacional Y. Lechuga, R. Mozuelos, M. Allende, M. Martínez, S. Bracho
"Experimental Analysis of Transient Current Test Based on dIDD Variations in S2I Memory Cells"
XIX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS2004). Bordeaux (France). 2004-11
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Conferencia Internacional R. Mozuelos, Y. Lechuga, M. Martínez, S. Bracho
"Characterization of an SC ADC by a Built-In Charge Sensor"
10th International Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW2004). Portland (USA). 2004-06
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   2003
Conferencia Internacional Y. Lechuga, R. Mozuelos, M. Martínez, S. Bracho
"Dynamic Current Testing Strategies for S2I Algorithmic A/D Converters"
XVIII Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS2003). Ciudad Real (Spain). 2003-11
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Conferencia Internacional R. Mozuelos, Y. Lechuga, M. Martínez, S. Bracho
"SC Algorithmic ADC Test with a Built-In Charge Sensor"
XVIII Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS2003). Ciudad Real (Spain). 2003-11
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Conferencia Internacional Y. Lechuga, R. Mozuelos, M. Martínez, S. Bracho
"Test generation in algorithmic switched current ADCs"
9th International Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW2003). Sevilla. 2003-06
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Revista Internacional Y. Lechuga, R. Mozuelos, M. Martínez, S. Bracho
"Built-In Sensor Based on Current Supply High-Frequency Behaviour"
Electronic Letters, Vol 39, No. 9. 2003-05
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Conferencia Internacional Y. Lechuga, M. Martínez, S. Bracho
"Fault Detection in Algorithmic ADC Monitoring Charge in SC Converters and Dynamic Current in SI Converters"
IX Workshop IBERCHIP (IWS´2003). La Habana (Cuba). 2003-03
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   2002
Conferencia Internacional Y. Lechuga, R. Mozuelos, M. Martínez, S. Bracho
"Fault detection in algorithmic switched-current ADC using built-in sensors"
XVII Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS 2002). Santander. 2002-11
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Conferencia Internacional Y. Lechuga, R. Mozuelos, M. Martínez, S. Bracho
"Built-in Dynamic Current Sensor for Hard-to-Detect Faults in Mixed-Signal ICs"
Design, Automation and Test in Europe, DATE 2002. Paris (France). 2002-03
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Conferencia Internacional Y. Lechuga, R. Mozuelos, M. Martínez, S. Bracho
"Hard-to-Detect Faults by Dynamic Current Sensor in Analogue Circuits"
3rd IEEE Latin-American Test Workshop, LATW2002. Montevideo (Uruguay). 2002-02
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